高强度短寿命核素对其它峰计数率和半衰期影响的研究

摘要

利用HPGe探测器及DSPECPlus谱仪的活时间校准模式(LTC)和零死时间校准模式(ZDT),对含有高强度短寿命核素的混合样品作了测量。结果表明:在计数率急剧变化的情况下,LTC方法测得的峰计数经修正以后仍然存在计数丢失;与ZDT模式的数据相比,初始阶段数据丢失率约2.0%~3.8%。这部分不能正确修正的计数对短寿命核素的半衰期几乎没有影响,但是对半衰期相对较长的核素有一定的影响,实验中,LTC和ZDT两种模式下24Na的半衰期相差了2.56%。

关键词