集成电路高温动态老化系统硬件研制

Authors：马进峰; 张福洪; 石学诚

Source：电子制作, 2013, (22): 226-227.

• 老化
• 动态
• 硬件

为了确保电子元器件产品满足用户对可靠性的要求,在出厂前都对目标器件进行老化测试,从而在短时间内剔除不合格器件。本文主要介绍了新一代集成电路高温动态老化系统的研制方案,系统构成以及各个模块的实现。

• Institution
  杭州电子科技大学