Summary
采用Ti/B4C复合靶作为靶材,通过磁控溅射方法沉积了成分、结构可调的Ti-B-C薄膜。利用X射线光电子能谱(XPS)和X射线衍射(XRD)分析了Ti-B-C薄膜的成分和结构,利用纳米压痕法测量了Ti-B-C薄膜的力学性能。结果表明,励磁线圈电流改变会影响薄膜的成分和结构,沉积温度改变对薄膜的成分无明显影响,但会影响薄膜结构,溅射电压改变对薄膜的成分和结构均无明显影响。薄膜的力学性能是薄膜中内应力和晶态硬质相含量综合作用的结果。通过调整沉积参数以及热处理条件,可以获得性能优异的Ti-B-C薄膜。
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Institution哈尔滨工业大学; 东北林业大学