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摘要
微弧氧化过程中,弧斑燃烧特性是直接影响微弧氧化膜层结构、膜层性能的重要因素。研究了常规微弧氧化和低能耗微弧氧化放电过程中弧斑燃烧的特性。用光谱仪和高速摄像机分别研究了微弧氧化过程中的等离子放电特性及弧斑燃烧时间特性。结果表明,常规微弧氧化过程中多种离子参与等离子放电,而在低能耗微弧氧化过程中只检测到Na+参与等离子体放电。低能耗微弧氧化过程中,相邻脉冲同一位置连续放电情况较少。常规微弧氧化过程中,在上一脉冲中放电较为剧烈的位置下一脉冲来临时仍可以优先放电,在同一位置脉冲来临时发生放电的连续时间可以达到数百微秒。
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单位中国工程物理研究院
