不均匀易损伤静电纺丝样品扫描电镜表征

作者：杨健茂; 刘晓云; 路平; 周剑锋; 查刘生

来源：实验室研究与探索, 2013, (10): 253.

• 扫描电镜
• 静电纺丝
• 工作距离
• 景深
• 电子束损伤 electron microscope
• electron spinning
• work distance(WD)
• depth of field
• electron beam damage

扫描电镜是观察样品微观形貌的主要方法之一,与透射电镜测试相比具有样品制备容易、样品损伤小、视野宽广、景深大、图像质量高等优点。但是,对于堆积较厚且不均匀的静电纺丝样品而言,不易得到大范围清晰的无损图像。通过离子溅射金属铂,改善样品导电导热性能,并研究工作距离、光阑等因素对景深的影响;束流、着陆电压等参数对样品损伤的影响。结果表明,增大工作距离且缩小光阑孔径,可以明显改善景深;使用减速模式降低直接作用在样品上的电子束电压,则减小电子束造成的损伤,获得了不均匀易损伤静电纺丝样品的扫描电镜表征方法和真实形貌。

• 单位
  东华大学