用于60GHz CMOS芯片测试的片上巴伦的设计

作者：郭开喆; 黄鹏

来源：信息技术, 2013, (01): 112-114.

• 60GHz
• 片上巴伦
• 测试
• CMOS 60GHz
• on-chip balun
• text
• CMOS

介绍了一种60GHz频段的测试用片上巴伦,采用调节中间抽头位置的方法来补偿巴伦的不平衡。仿真结果表明其幅度不平衡度为0.01dB,相位不平衡度为2°,损耗为1.1dB。并讨论了如何用二端口矢量网络分析仪来测试巴伦的小信号参数以及如何用巴伦来测试差分电路的差分S参数。

• 单位
  电子工程学院; 电子科技大学