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Effects of non-fatal electrostatic discharge on the threshold voltage degradation in nano CMOS devices
作者：Wong, Hei
*
; Dong, Shurong; Chen, Zehua
来源：
Science China Information Sciences
, 2022, 65(2): 129403.
DOI：10.1007/s11432-020-3197-8
单位
浙江大学
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