自适应局部二值模式算法及其在织物疵点检测中的应用

Authors：付蓉; 石美红; 陈惠娟

Source：纺织高校基础科学学报, 2010, (01): 99-104.

• 局部二值模式
• 图像分割
• 疵点检测
• 特征选择
• 工业检验 local binary patterns
• image segmentation
• defect detection
• feature selection
• industrial inspection

为了能够准确地提取不同纹理的特征,提出一种新的纹理特征提取方法,自适应局部二值模式为不同纹理特征创建相应的主要概率模式子集,避免了均匀局部二值模式使用同一模式集描述不同纹理结构而导致的描述不准确问题.在该算法基础上构建一种新颖的织物疵点检测算法,使用本文提出的特征提取方法获取无疵点织物图像特征并确定疵点判断阈值,然后将待检测织物图像分割为大小相同的检测窗提取特征后,与阈值比较以判断是否为疵点区域.实验证明此算法不仅保持了传统LBP的旋转不变、多分辨率等特点,而且疵点检测结果在视觉上更加细腻、误检率更低、适用范围更广.

• Institution
  西安工程大学; 西安电子科技大学