Summary
采用场发射电子扫描显微镜(SEM)分析渗氮前后取向硅钢试样表层形貌,采用辉光放电光谱仪(GD-OES)分析表层元素分布。在GD-OES中用Ar~+离子溅射试样表面,通过控制溅射时间、溅射深度使试样达到表面不同深度位置。并利用光电子能谱(XPS)分析渗氮前后不同深度元素组成及价态,采用SEM观察渗氮后不同深度形貌特征,探究渗氮过程反应机理。结果表明:渗氮前,试样表面形成约3μm厚的氧化层,外表面由FeO和Fe_2SiO_4组成,中间层为球状SiO_2,靠近基体一侧为带状SiO_2,氧化层中还残留有少量的单质硅。渗氮过程中,NH_3分解产生的H_2会将钢带表层部分FeO和Fe_2Si O_4还原成...
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Institution测试单位; 武汉科技大学