PCR-膜芯片检测痰结核杆菌耐药基因突变的应用研究

摘要

目的探讨PCR-膜芯片技术直接应用于痰标本中结核杆菌耐药基因突变检测的可行性。方法采集82例痰标本(结核患者64例,非结核患者18例),TB膜芯片检测标本中的结核杆菌IS6110基因,阳性者利用12对特异性引物进行多重PCR,扩增产物与含有59个探针的耐药-TB膜芯片反向点杂交检测结核杆菌耐药基因突变,测序验证并与药敏试验比对。结果 TB膜芯片检测痰标本中的结核杆菌IS6110基因,特异度为100%(18/18),灵敏度为81.3%(52/64),阳性预测值为100%(52/52),阴性预测值为60%(18/30);在52例结核杆菌IS6110基因阳性的痰标本中,耐药-TB膜芯片检出INH基因突变的1例,RFP基因突变的1例,INH和RFP基因同时突变的2例,INH、RFP和SM基因同时突变的1例,其中4例结果与药敏及DNA测序结果基本符合,1例突变位点与测序一致,但细菌培养阴性。结论应用PCR-膜芯片技术可提高痰样中结核杆菌基因的检出率;耐药-TB膜芯片检测结果对临床耐药结核病的快速诊断具有重要的参考价值。

关键词