基于IEEE1149.7的TAP控制器命令研究

作者：江坤; 高俊强

来源：国外电子测量技术, 2013, (05): 41.

• IEEE1149.7标准
• TAP控制器命令
• 边界扫描
• 测试控制器 IEEE 1149.7
• the commands of TAP controller
• boundary scan
• test controller

随着待测芯片的集成度越来越高,IEEE1149.1标准已很难满足芯片设计对测试与调试的要求。IEEE1149.7标准在保持与IEEE1149.1兼容的基础上增加了新功能,提供了一种全新的双引脚测试与调试方法。目前对IEEE1149.7的研究处于起步阶段,所以研究支持其的控制器命令对今后的发展具有重要的意义。本文在深入研究IEEE1149.7标准的基础上,利用QuartusII开发平台设计了基于TAP控制器命令的测试控制器,并进行了仿真验证。结果表明产生的命令测试信号符合IEEE1149.7标准对TAP控制器命令的规定。

• 单位
  自动化学院; 桂林电子科技大学