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摘要
<正>电离层总电子含量(total electron content,TEC)是一个重要的电离层物理参量,对电离层物理的理论研究以及电波传播的应用研究有着十分重要的意义。然而,在理论和应用研究过程中,基于单层假设的电离层TEC空间分布只能反映电离层的水平结构,而难以反映电离层的垂直结构。电离层层析成像(computerized ionospheric tomography,CIT)技术的出现为监测电离层垂直结构提供了
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单位华东交通大学
