Ba_2TiSi_2O_8晶体的生长及包裹物缺陷分析

Authors：刘小凤; 魏庆科; 喻建兵; 胡晓琳; 庄乃锋; 林树坤; 陈建中

Source：人工晶体学报, 2013, (12): 2495.

• Ba2TiSi2O8
• 提拉法
• 晶体缺陷
• 硬度 Ba2TiSi2O8
• Czochralski method
• crystal defect
• hardness

采用提拉法生长了Ba2TiSi2O8(BST)晶体,并采用SEM和EDS等手段对晶体内部包裹物缺陷进行了分析。发现多晶原料中的Na,K,Cl杂质元素的存在是导致晶体内部产生包裹物缺陷的主要诱因,采用低的生长速率和较快的晶体转速有利于获得高质量BTS单晶。另外,本论文还对晶体的硬度和透过光谱进行了测试与分析。

• Institution
  福州大学; 化学化工学院