模拟电路内建自测试故障特征提取与优化

作者：朱敏; 杨春玲; 孔德晶

来源：仪器仪表学报, 2013, (01): 200-207.

• 内建自测试
• 模拟电路
• 故障检测
• 特征提取与优化 built-in self test(BIST)
• analog circuit
• fault detection
• feature extraction and optimization

针对电子装备中模拟电路内建自测试(built-in self test,BIST)的自动测试矢量生成需要引入数模和模数转换器,从而增加了硬件电路面积和测试测量误差,并增加了测试的复杂性、降低了系统的可靠性的缺点,提出一种模拟电路内建自测试故障特征提取与优化方法。该方法是利用电子装备中自带的微控制器产生的方波作为模拟电路的自动测试矢量,并针对此自动测试矢量产生的输出响应进行分析,提取多维故障特征并优化的算法。该方法能够使得自动测试矢量生成复杂性降低,优化故障特征并通过故障隔离度计算公式使得故障的可隔离程度提高,精简故障特征样本,从而减少测试的复杂性和代价。最后,通过实验验证了所提出方法的正确性和有效性。

• 单位
  自动化学院; 哈尔滨工业大学