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摘要
随着纳米工艺的不断发展,可靠性成为集成电路设计中主要的挑战,特别是像航空,航天和军事等高科技领域。在深亚微米工艺中,老化效应和软错误是影响电路可靠性的重大因素,业界虽已对此做过研究,但是大部分都是把它们分开处理,它们中的大多数结构工作时都存在一个或多个点处于浮空态,存在严重的电荷衰减问题,尤其易受干扰,大大影响了检测结果的准确性。本文提出一种新的机制,采用一种低功耗的多功能稳定性检测器来同时解决老化,软错误和延迟故障,特别是它彻底解决了浮空点问题。利用Hspice仿真工具得到的实验结果表明该结构具有良好的性能和面积权衡,其功耗开销比参照结构节约超过35%。
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单位合肥工业大学计算机与信息学院; 合肥工业大学
