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基于X射线衍射仪的X光晶体参数标定

李军; 韦敏习; 杨国洪; 侯立飞; 易涛; 刘慎业
中国知网
中国工程物理研究院激光聚变研究中心

摘要

基于实验室X射线衍射仪,利用其运行稳定性和高精度角度控制能力,通过设计、制作晶体样品架,对X光平面晶体的本征参数晶格常数和积分衍射效率进行了实验标定,并给出其不确定度。该方法快速、高效、方便、灵活,实现了X光晶体的实验室标定,为ICF物理实验线谱诊断设备晶体谱仪的定量化测量提供了数据支撑。

关键词

X射线衍射仪 X光晶体 本征参数 标定方法 X-ray diffractometer X-ray crystal essential parameter calibration method