固态微波器件防自激测试夹具研究

作者：王之哲; 陈思; 唐莎; 孙宇; 王小强

来源：电子元件与材料, 2019, 1-4.

DOI：10.14106/j.cnki.1001-2028.2018.12.013

• 固态微波器件
• 测试夹具
• 自激振荡
• 产生机理
• 消除措施
• 设计准则

固态微波器件能够实现微波功率的发射、放大、控制和接收,在移动通讯、雷达等领域有着重要的应用。但是固态微波器件在实际测试中易发生自激振荡,影响其正常工作,甚至会造成永久性的损坏。而良好的测试夹具设计可以有效防止自激振荡现象的发生。因此本文通过分析固态微波器件自激振荡的产生机理,研究制定自激振荡的有效消除措施,提出了固态微波器件防自激测试夹具设计准则,并选取典型Ga N微波功率晶体管开展夹具研制加以验证。器件多次重复测试均未发生自激振荡,而且测试结果一致性较好,表明形成的固态微波器件防自激测试夹具设计准则合理可行,能够有助于实现固态微波器件性能参数的精确测试,支撑研制单位的工艺改进和质量提升。

• 单位
  工业和信息化部电子第五研究所