基底和膜层-基底系统的赝布儒斯特角计算(英文)

作者：刘华松; 姜玉刚; 王利栓; 姜承慧; 季一勤

来源：光子学报, 2013, (07): 817-822.

• 光学常量
• 折射率
• 消光系数
• 膜层-基底系统
• 赝布儒斯特角 Optical constant
• Refractive index
• Extinction coefficient
• Thin-film substrate system
• Pseudo-Brewster angle

对基底和膜层-基底系统的赝布儒斯特角进行了数值计算.结果显示:当基底的消光系数小于0.01时,基底的赝布儒斯特角主要是由折射率决定;当基底的消光系数大于0.1时,基底的赝布儒斯特角不仅与折射率有关,而且还与消光系数有关,随着消光系数发生后周期性变化.研究表明:单层膜-基底系统的赝布儒斯特角主要由膜层的物理厚度、折射率、基底的光学常量所决定;在HfO2-硅和HfO2-融石英基底系统中,赝布儒斯特角随着入射光波长和膜层厚度的变化呈现准周期性规律变化,可能是由入射光在膜层的干涉效应引起的.

• 单位
  哈尔滨工业大学光电子技术研究所; 同济大学; 中国航天科工集团第三研究院第八三五八研究所