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再发射技术测量SGⅡ黑腔靶早期对称性

陈伯伦; 蒋炜; 景龙飞; 袁铮; 黎航; 余波; 蒲昱东; 苏明; 晏骥; 黄天晅; 江少恩; 刘慎业; 杨家敏; 丁永坤
中国知网
中国工程物理研究院激光聚变研究中心

摘要

利用再发射技术能够有效测量早期辐射驱动对称性。2011年在神光Ⅱ激光装置上,采用Bi替代靶,通过改变靶丸的支撑方式和优化探测器配置,利用分幅相机获得较高信噪比的Bi球表面再发射图像。利用实验结果获得了入射流不对称性P2分量随时间的变化,对比两种腔长的黑腔,P2分量随时间的变化存在明显差别。两种腔P2分量随时间的变化趋势与采用视角因子模拟的结果基本一致。

关键词

再发射 早期不对称性 P2分量 Bi替代靶 re-emission early time hohlraum symmetry P2 Legendre component Bi alternative target