厚度可控薄板形Silicalite-1的制备(英文)

作者：姚小强; 徐向宇; 吕志; 焦琨; 宋家庆; 李兆飞; 王骞; 阎立军; 何鸣元

来源：ACTA PHYSICO-CHIMICA SINICA, 2013, (08): 1809-1813.

• Silicalite-1
• 形貌
• 板形材料
• NH4F/SiO2
• HRTEM Silicalite-1
• Morphology
• Plate like material
• NH 4 F/SiO 2
• HRTEM

通过精细调整控制合成条件,在SiO2-TPAOH-H2O-NH4F(TPAOH:四丙基氢氧化铵)体系中制备出了厚度可控的薄板型Silicalite-1分子筛材料,并利用扫描电镜(SEM)、高分辨透射电镜(HRTEM)、粉末X射线衍射(XRD)及差热-热重分析(TG-DTA)对样品的结构信息、样品形貌及物理化学性质进行了表征.研究表明,NH4F浓度和反应体系pH值对Silicalite-1分子筛的形貌起着重要的导向作用.随着NH4F/SiO2的摩尔比(n(NH4F)/n(SiO2))由0增加到0.18,分子筛形貌由交互生长的椭圆形变为板形,其厚度也逐渐变薄;当n(NH4F)/n(SiO2)=0.4时,厚度达到最薄.继续增加NH4F/SiO2的摩尔比,其厚度增加,这是由于F-提高了样品结晶度.HRTEM研究表明b轴垂直于平面,由于在MFI结构的材料中,b轴方向是其直孔道方向,这种材料有利于客体分子的进出.还研究了样品的热稳性,所有样品在1100°C焙烧2h后,其形貌和结构不发生变化.

• 单位
  北京化工大学; 华东师范大学