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基于折叠计算的多扫描链BIST方案

梁华国; 李扬; 李鑫; 易茂祥; 王伟; 常郝; 李松坤
中国知网
合肥工业大学; 合肥工业大学计算机与信息学院

摘要

为了减少测试数据的存储需求并降低测试应用时间,提出一种以折叠计算为理论的多扫描链BIST方案.首先利用输入精简技术在水平方向上压缩测试集,确定相容扫描链,在测试过程中对相容扫描链中的数据进行广播;然后利用折叠计算理论对测试集进行垂直方向上的压缩,使得同一折叠种子生成的相邻测试向量仅有1位不同,且在测试过程中测试向量并行移入多扫描链.在ISCAS标准电路上的实验结果表明,该方案的平均测试数据压缩率为95.07%,平均测试应用时间为之前方案的13.35%.

关键词

折叠计算 内建自测试 多扫描链 测试应用时间 folding computing built-in self-test(BIST) multiple scan chains test application time