基于ICA和相关性分析的脑电信号眨眼伪迹去除

作者：赵欣欣; 孔万增

来源：杭州电子科技大学学报, 2013, (01): 32-35.

• 脑电信号
• 眨眼伪迹
• 独立成分分析
• 相关性分析 EEG
• blink artifact
• ICA
• correlation analysis

眨眼伪迹是脑电信号采集过程中的常见噪声,严重影响其有用信息的提取。该文尝试采用独立成分分析中的快速算法分离脑电信号中的各个独立分量,并通过相关性分析自动识别独立分量中的眨眼伪迹干扰并去除。研究结果表明该方法能有效识别和去除眨眼伪迹,在脑电信号的处理中有重要应用价值,值得深入研究和推广。

• 单位
  杭州电子科技大学