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Nanogap Embedded Transistor for Investigation of Charge Properties in DNA
作者：Kim Chang Hoon; Kim Jee Yeon; Moon Dong Il; Choi Ji Min; Choi Yang Kyu
*
来源：
IEEE Transactions on Nanotechnology
, 2016, 15(2).
DOI：10.1109/TNANO.2015.2512300
Adhesion problem
Air-gaps
Charge properties
Charge trapping characteristics
Charge trapping properties
Dielectric layer
Electrical contacts
Nano-gap
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